Systèmes permettant de mesurer la vitesse des ondes P et S à l’intérieur d’un échantillon. Les capteurs AV sont généralement utilisés lorsque les pressions et les charges dépassent celles pour lesquelles des éléments de pliage peuvent être utilisés. Les capteurs AV sont basés sur le même principe que les éléments de pliage, mais les éléments […]
Systèmes permettant de mesurer la vitesse des ondes P et S à l'intérieur d'un échantillon. Les capteurs AV sont généralement utilisés lorsque les pressions et les charges dépassent celles pour lesquelles des éléments de pliage peuvent être utilisés.
Les capteurs AV sont basés sur le même principe que les éléments de pliage, mais les éléments céramiques piézoélectriques ne sont pas exposés à l'environnement. Ils peuvent donc être utilisés à des pressions allant jusqu'à 100MPa et à des charges allant jusqu'à 2MN. Les capteurs et les sources sont montés dans le socle et le capuchon supérieur ou sur les côtés de l'échantillon dans certains cas. Chaque ensemble de capteurs contient un élément à ondes de compression (ondes P) et deux éléments à ondes de cisaillement (ondes S). Les éléments à ondes de cisaillement sont placés dans des directions orthogonales pour permettre de générer deux ondes de cisaillement avec une polarisation différente. Ceci est important lorsque les échantillons peuvent être trans-anisotropes ou même totalement anisotropes.
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