Doté de l'optique la plus avancée de Nikon pour une inspection inégalée des types de plaquettes les plus récents.

Les microscopes Nikon Eclipse L300N/L300ND FPD / Wafer Inspection intègrent la célèbre optique à l'infini CFI60 de Nikon, qui offre le plus haut niveau de performance optique au monde. La fonction d'épi-fluorescence améliorée, qui permet une excitation UV de 365 nm, est optimale pour l'inspection des résidus de résine semi-conductrice sur les tranches de 300 mm et les écrans à électroluminescence organique.

Le L300N/L300ND est doté de puissantes capacités d'observation par épifluorescence, élargissant la gamme d'inspection, y compris l'excitation de 365 nm. L'éclairage diascopique et diverses méthodes d'observation telles que le fond clair, le fond noir, la polarisation simple et le DIC sont également possibles. Cette polyvalence d'observation est très utile pour l'inspection des résidus de résine semi-conductrice et des écrans organiques à électroluminescence.

• L'illuminateur motorisé à fibre précentrée au mercure Intensilight de Nikon permet une observation supérieure de l'épifluorescence.
  
• Le centrage de la lampe et le réglage de la mise au point ne sont pas nécessaires, même après le remplacement de la lampe.
  
• La source lumineuse peut être placée loin du microscope, ce qui réduit la chaleur à proximité du microscope et évite la défocalisation.
  
• L'intensité lumineuse variable et le contrôle de l'obturateur offrent une excellente flexibilité.
  
• La lampe a une durée de vie moyenne de 2000 heures.

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