Système multisonde pour mesure d'épaisseur double face

Système multisonde pour mesure d’épaisseur double face

Surface statement and form metrology Tech. Specs : Max.f.dev. h=200mm inf. 4µ/100mm Back to back multiprobe measurement Multi-track optics 3 mm, 300µ, CCD Thickness, back to back measurement with 2 symmetric probes to sync the 2 profiles and surfaces DC motorized axis Applications […]

SKU : I-B32-Altisurf Twin
Fabricant : Altimet

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Description

Surface statement and form metrology

Tech. Specs :
- Max.f.dev. h=200mm inf. 4µ/100mm

Back to back multiprobe measurement

Multi-track optics 3 mm, 300µ, CCD
- Thickness, back to back measurement with 2 symmetric probes to sync the 2 profiles and surfaces

DC motorized axis

Applications
- Top-Down-Thickness
- 3D cartography
- Thickness of transparent films
- Scores metrology

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