Profileur de sous-nano-surface précis avec mesure sans contact

• Réalise des mesures à un niveau de 0,1 nm sur des surfaces ultra-lisses, sans moyenne ni processus de filtrage.
• Permet d'effectuer des mesures avec la même résolution en hauteur dans une large gamme de grossissements.
• Permet de mesurer des surfaces lisses et rugueuses sans changer de mode de mesure ou de filtre optique.
• Capture à la fois une image entièrement focalisée et une image de la hauteur de la surface.

Large éventail de méthodes d'observation

• Le système peut être utilisé comme microscope optique. Les observations en fond clair, en polarisation, en DIC et en fluorescence sont toutes possibles.
  

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