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Système multi-sondes dos à dos pour la mesure de l’épaisseur

État de surface et métrologie des formes Tech. Spécifications : Déviation f.max. h=200mm inf. 4µ/100mm Mesure à plusieurs sondes dos à dos Optique multipiste 3 mm, 300µ, CCD Epaisseur, mesure dos à dos avec 2 sondes symétriques pour synchroniser les 2 profils et surfaces Axe motorisé DC Applications Épaisseur du haut vers le bas Cartographie […]

  • SKU : I-B32-Altisurf Twin
  • Fabricant : Altimet
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  • État de surface et métrologie des formes
  • Tech. Spécifications :
    • Déviation f.max. h=200mm inf. 4µ/100mm
  • Mesure à plusieurs sondes dos à dos
  • Optique multipiste 3 mm, 300µ, CCD
    • Epaisseur, mesure dos à dos avec 2 sondes symétriques pour synchroniser les 2 profils et surfaces
  • Axe motorisé DC
  • Applications
    • Épaisseur du haut vers le bas
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    • Épaisseur des films transparents
    • Métrologie des scores
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